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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar三維共聚焦輪廓儀多技術(shù)表面測量 Sensofar S neox三維共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀采用模塊化設(shè)計,集成共聚焦、白光干涉、相位差干涉及AI多焦面疊加四種測量模式。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:S neox
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Sensofar三維共聚焦輪廓儀多功能表面分析 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:S neox
瀏覽量:194
Sensofar三維輪廓儀:共聚焦與干涉測量結(jié)合 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:S neox
瀏覽量:151
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:S neox
瀏覽量:122
Sensofar三維輪廓儀微觀世界多模態(tài)測量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:S neox
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Sensofar:專注工業(yè),高效檢測 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:S neox
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