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光學(xué)顯微鏡
奧林巴斯顯微鏡
BX53奧林巴斯正置式顯微鏡礦物分析基礎(chǔ)觀測設(shè)備
產(chǎn)品簡介
奧林巴斯正置式顯微鏡礦物分析基礎(chǔ)觀測設(shè)備礦物研究中,晶體形態(tài)、解理面、包裹體等微觀特征是分類與鑒定的關(guān)鍵。石英的晶面條紋、方解石的菱面體解理、黃鐵礦的立方體晶形,這些細(xì)節(jié)需高分辨率顯微鏡觀察。奧林巴斯BX53正置式材料顯微鏡,以適配礦物分析的設(shè)計,成為礦物研究的基礎(chǔ)觀測設(shè)備。
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