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BX53P顯微鏡偏光檢測：看清樣品的隱藏細(xì)節(jié)

產(chǎn)品簡介

BX53P顯微鏡偏光檢測：看清樣品的隱藏細(xì)節(jié)
在地質(zhì)、材料、生物等領(lǐng)域的微觀研究中，普通顯微鏡難以區(qū)分各向同性與各向異性樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而奧林巴斯 BX53P 專業(yè)偏光顯微鏡憑借精準(zhǔn)的偏光技術(shù)，能清晰呈現(xiàn)樣品的光學(xué)特性，挖掘肉眼不可見的細(xì)節(jié)。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-24

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：61

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光學(xué)顯微鏡

基恩士永新顯微鏡徠卡光學(xué)顯微鏡奧林巴斯顯微鏡舜宇光學(xué)顯微鏡

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BX53P顯微鏡偏光檢測：看清樣品的隱藏細(xì)節(jié)

在地質(zhì)、材料、生物等領(lǐng)域的微觀研究中，普通顯微鏡難以區(qū)分各向同性與各向異性樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而奧林巴斯 BX53P 專業(yè)偏光顯微鏡憑借精準(zhǔn)的偏光技術(shù)，能清晰呈現(xiàn)樣品的光學(xué)特性，挖掘肉眼不可見的細(xì)節(jié)。

比如地質(zhì)研究中觀察巖石薄片時，BX53P 的偏光系統(tǒng)可通過調(diào)節(jié)起偏器與檢偏器的角度，讓不同礦物呈現(xiàn)獨特的干涉色，幫助研究人員快速識別礦物成分。傳統(tǒng)顯微鏡下看似單一的巖石切片，在 BX53P 下能清晰區(qū)分石英、長石等不同礦物的分布狀態(tài)，甚至能觀察到礦物的結(jié)晶程度與內(nèi)部裂隙，為地質(zhì)勘探與巖石成因分析提供可靠依據(jù)。

在高分子材料研究中，BX53P 同樣表現(xiàn)出色。檢測塑料薄膜的結(jié)晶取向時，偏光技術(shù)能直觀呈現(xiàn)分子鏈的排列狀態(tài)，若分子鏈排列紊亂，會影響材料的強(qiáng)度與韌性，研究人員可根據(jù)觀察結(jié)果調(diào)整加工工藝。相比普通顯微鏡，BX53P 無需對樣品進(jìn)行染色等預(yù)處理，就能實現(xiàn)無損檢測，避免樣品損傷導(dǎo)致的研究誤差。

二、用材與結(jié)構(gòu)：穩(wěn)定支撐精密觀測

為保障偏光檢測的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性，BX53P 在核心部件用材與結(jié)構(gòu)設(shè)計上做了針對性優(yōu)化。光學(xué)系統(tǒng)采用高透光率的螢石鏡片，搭配多層增透鍍膜工藝，減少光線反射與散射，確保成像清晰銳利；物鏡組采用無應(yīng)變設(shè)計，避免鏡片應(yīng)力導(dǎo)致的偏振光干擾，讓偏光效果更穩(wěn)定。

設(shè)備機(jī)身采用高強(qiáng)度鑄鐵框架，重心低且穩(wěn)定性強(qiáng)，能有效減少外界振動對觀測的影響 —— 即使在實驗室多人操作的環(huán)境中，也能避免圖像抖動，無需額外搭建防震平臺。載物臺選用耐磨陶瓷材質(zhì)，表面經(jīng)過精密研磨，移動時順滑平穩(wěn)，可精準(zhǔn)定位樣品觀測區(qū)域，同時陶瓷材質(zhì)不易磨損，延長使用壽命。

光源模塊采用長壽命 LED 光源，發(fā)光穩(wěn)定且色溫均勻，能提供持續(xù)的照明支持，正常使用下多年無需更換，減少耗材支出。光源亮度可通過旋鈕連續(xù)調(diào)節(jié)，適配不同透明度樣品的觀測需求，避免強(qiáng)光對敏感樣品的損傷。

三、基礎(chǔ)參數(shù)與使用說明

（1）核心參數(shù)表

參數(shù)類別	參數(shù)內(nèi)容
光學(xué)系統(tǒng)	UIS2 無限遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)
物鏡倍數(shù)	4×、10×、20×、40×、100×
偏光組件	可旋轉(zhuǎn)起偏器、檢偏器
光源類型	LED 透射光源（壽命≥10000 小時）
載物臺尺寸	188mm×134mm，移動范圍 76mm×52mm
適用樣品類型	巖石薄片、高分子材料、生物切片等

（2）基礎(chǔ)使用步驟

樣品準(zhǔn)備：將樣品（如巖石薄片、塑料薄膜）平穩(wěn)放置在載物臺中心，用壓片固定，確保樣品表面無污漬；

設(shè)備調(diào)試：打開電源，調(diào)節(jié)光源亮度至合適水平；根據(jù)樣品類型選擇對應(yīng)倍數(shù)的物鏡，通過粗調(diào)旋鈕下降鏡筒至接近樣品，再用微調(diào)旋鈕清晰對焦；

偏光觀測：旋轉(zhuǎn)起偏器至指定角度（通常與檢偏器呈 90°），觀察樣品的干涉色與結(jié)構(gòu)特征，可通過調(diào)節(jié)載物臺角度進(jìn)一步分析樣品的光學(xué)特性；

圖像記錄：若需保存觀測結(jié)果，可連接相機(jī)組件，通過配套軟件拍攝圖像并導(dǎo)出，支持后續(xù)分析與報告制作。

無論是地質(zhì)勘探中的礦物識別，還是材料研發(fā)中的結(jié)構(gòu)分析，奧林巴斯 BX53P 都能通過專業(yè)的偏光技術(shù)與穩(wěn)定性能，成為微觀研究領(lǐng)域的實用工具，幫助用戶解鎖更多樣品的隱藏細(xì)節(jié)。BX53P顯微鏡偏光檢測：看清樣品的隱藏細(xì)節(jié)

BX53P顯微鏡偏光檢測：看清樣品的隱藏細(xì)節(jié)