Sensofar S wide三大行業(yè)的大尺寸檢測(cè)助手
一、電子行業(yè)：大尺寸電路板的高效質(zhì)檢
電子行業(yè)中，大尺寸柔性電路板、面板類產(chǎn)品的檢測(cè)是質(zhì)量控制的關(guān)鍵，傳統(tǒng)設(shè)備因視野限制，常面臨 “檢測(cè)慢、易漏檢" 的問(wèn)題，而 Sensofar S wide 的大視野設(shè)計(jì)，正好適配這類產(chǎn)品的檢測(cè)需求。
在柔性電路板生產(chǎn)中，一塊 1.2 米長(zhǎng)的電路板上分布著數(shù)百個(gè)元件，傳統(tǒng)設(shè)備需分 10 余次掃描才能覆蓋全貌，不僅耗時(shí)超 1 小時(shí)，還可能因拼接偏差漏檢邊緣區(qū)域的缺陷。S wide 一次掃描就能完成全板檢測(cè)，15-20 分鐘內(nèi)即可生成完整的表面形貌數(shù)據(jù)，軟件自動(dòng)識(shí)別元件高度異常、焊點(diǎn)凸起、線路劃痕等問(wèn)題，并在報(bào)告中用顏色標(biāo)注缺陷位置。質(zhì)檢人員無(wú)需逐一核對(duì)局部數(shù)據(jù)，就能快速判斷電路板是否合格，大幅提升檢測(cè)效率。
針對(duì)液晶面板的檢測(cè)，S wide 同樣表現(xiàn)突出。面板表面的微小劃痕、異物會(huì)影響顯示效果，傳統(tǒng)設(shè)備難以同時(shí)兼顧 “大面積覆蓋" 與 “細(xì)節(jié)捕捉"，而 S wide 既能掃描整個(gè)面板表面，定位劃痕、異物的分布位置，又能放大局部區(qū)域，清晰呈現(xiàn)缺陷的大小與形態(tài)，幫助判斷是否影響產(chǎn)品使用，為面板修復(fù)或篩選提供準(zhǔn)確依據(jù)，減少因檢測(cè)不全面導(dǎo)致的客戶投訴。
二、汽車行業(yè)：大型模具與零部件的質(zhì)量把控
汽車生產(chǎn)中，大型模具（如車門模具、保險(xiǎn)杠模具）與車身零部件的表面質(zhì)量，直接影響汽車外觀與裝配精度，S wide 的大視野與穩(wěn)定性能，能為這類產(chǎn)品的檢測(cè)提供可靠支持。
在汽車模具檢測(cè)環(huán)節(jié)，傳統(tǒng)方式依賴人工用探針逐點(diǎn)測(cè)量，不僅效率低，還無(wú)法完整呈現(xiàn)模具型腔的表面狀態(tài)。S wide 通過(guò)大視野掃描，能在 30 分鐘內(nèi)完成大型車門模具的全型腔檢測(cè)，生成平整度分布圖與缺陷報(bào)告，標(biāo)注型腔表面的凹陷、劃痕等問(wèn)題。模具維修人員可根據(jù)報(bào)告精準(zhǔn)打磨缺陷區(qū)域，避免盲目修復(fù)導(dǎo)致的模具損壞，同時(shí)縮短維修時(shí)間，減少產(chǎn)線停機(jī)損失。
對(duì)車身金屬零部件（如車頂蓋板、底盤框架）的檢測(cè)，S wide 也能發(fā)揮價(jià)值。這類零部件尺寸大、表面易產(chǎn)生沖壓劃痕，S wide 可快速掃描零部件表面，檢測(cè)劃痕深度與分布情況，判斷是否需要重新打磨；同時(shí)能測(cè)量零部件的整體平整度，確保裝配時(shí)與其他部件精準(zhǔn)貼合，避免因尺寸偏差導(dǎo)致的裝配困難，提升汽車生產(chǎn)的整體合格率。
三、光學(xué)行業(yè)：大直徑鏡片與光學(xué)元件的檢測(cè)
光學(xué)行業(yè)中，大直徑鏡片（如天文望遠(yuǎn)鏡鏡片、投影鏡頭）與光學(xué)薄膜的檢測(cè)，對(duì) “全局平整度" 與 “局部缺陷" 的要求高，S wide 的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，能很好適配這類高精度檢測(cè)需求。
在大直徑光學(xué)鏡片研發(fā)中，鏡片的整體平整度直接影響成像質(zhì)量，傳統(tǒng)設(shè)備難以一次掃描全鏡片，拼接數(shù)據(jù)易出現(xiàn)偏差，影響研發(fā)判斷。S wide 一次掃描就能覆蓋直徑 1 米以上的鏡片，生成完整的平整度數(shù)據(jù)，軟件自動(dòng)計(jì)算鏡片不同區(qū)域的曲率偏差，幫助研發(fā)人員優(yōu)化打磨工藝。同時(shí)，設(shè)備能捕捉鏡片表面的微小氣泡、劃痕，判斷是否影響光學(xué)性能，為鏡片質(zhì)量篩選提供依據(jù)，縮短研發(fā)周期。
針對(duì)光學(xué)薄膜的檢測(cè)，S wide 通過(guò)非接觸測(cè)量方式，避免損傷薄膜表面，同時(shí)能掃描大面積薄膜，檢測(cè)厚度均勻性與表面粗糙度。比如檢測(cè)光伏玻璃表面的增透膜時(shí)，S wide 既能判斷薄膜整體厚度是否符合標(biāo)準(zhǔn)，又能定位厚度不均的區(qū)域，為薄膜沉積工藝調(diào)整提供參考，幫助提升光伏組件的透光效率，間接提高發(fā)電性能。
從電子行業(yè)的電路板檢測(cè)，到汽車行業(yè)的模具把控，再到光學(xué)行業(yè)的鏡片檢測(cè)，Sensofar S wide 都能通過(guò)大視野優(yōu)勢(shì)與穩(wěn)定性能，解決各行業(yè)大尺寸產(chǎn)品的檢測(cè)痛點(diǎn)，成為不同領(lǐng)域生產(chǎn)與研發(fā)環(huán)節(jié)的實(shí)用工具，助力提升產(chǎn)品質(zhì)量與生產(chǎn)效率。
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