布魯克三維光學(xué)輪廓儀開機(jī)前準(zhǔn)備與檢查
環(huán)境與供電:需在溫度 18-26℃、濕度 35%-65% 的環(huán)境中使用,避免強(qiáng)光直射或通風(fēng)口附近擺放;連接 AC 220V±10% 電源,確認(rèn)接地牢固(接地電阻≤4Ω),防止靜電干擾測(cè)量。
設(shè)備檢查:觀察物鏡表面是否清潔(無(wú)灰塵、指紋),樣品臺(tái)移動(dòng)是否順暢,觸控面板無(wú)破損;按下電源開關(guān),設(shè)備自檢約 1 分鐘,指示燈呈綠色表示正常(紅色需重啟設(shè)備)。
附件準(zhǔn)備:根據(jù)樣品類型選擇物鏡(如測(cè)芯片選 50X,測(cè)機(jī)械零件選 5X),輕擰物鏡至接口貼合;若樣品輕薄(如薄膜),準(zhǔn)備雙面樣品固定膠,避免測(cè)量時(shí)移位。
樣品放置:將樣品放在樣品臺(tái)中心,手動(dòng)調(diào)節(jié) X/Y 軸旋鈕,使測(cè)量區(qū)域?qū)?zhǔn)物鏡下方;若使用自動(dòng)樣品臺(tái),在 ContourPro 軟件中輸入目標(biāo)坐標(biāo),設(shè)備自動(dòng)移動(dòng)定位。
參數(shù)設(shè)置:打開軟件,選擇當(dāng)前物鏡倍率,設(shè)置掃描范圍(最小 5μm×5μm,最大 80mm×80mm)、數(shù)據(jù)點(diǎn)密度(300-800 點(diǎn) /mm2);針對(duì)透明樣品,勾選 “增強(qiáng)對(duì)比度" 功能,提升成像清晰度。
對(duì)焦與掃描:點(diǎn)擊 “自動(dòng)對(duì)焦",軟件自動(dòng)調(diào)整物鏡高度至優(yōu)良成像狀態(tài);對(duì)焦完成后點(diǎn)擊 “開始掃描",單幅掃描時(shí)間根據(jù)范圍而定(5X 物鏡下 5mm×5mm 視野約 20 秒),掃描過(guò)程中避免觸碰設(shè)備。
數(shù)據(jù)分析:掃描完成后,軟件生成 3D 形貌圖,可直接查看表面粗糙度(Ra、Rz)、臺(tái)階高度、溝槽寬度等參數(shù),數(shù)值保留 3 位小數(shù)(如 Ra=0.032μm)。
結(jié)果導(dǎo)出:點(diǎn)擊 “導(dǎo)出" 按鈕,可選擇 CSV(數(shù)據(jù)表格)、STL(3D 模型)、BMP(2D 圖像)格式;報(bào)告生成支持 PDF 格式,包含樣品信息、測(cè)量參數(shù)、結(jié)果圖表,便于存檔與分享。
電子芯片檢測(cè):選 50X 物鏡,掃描范圍 0.4mm×0.4mm,數(shù)據(jù)點(diǎn)密度 800 點(diǎn) /mm2,重點(diǎn)測(cè)量鍵合線高度(誤≤0.1μm),發(fā)現(xiàn)異常標(biāo)注坐標(biāo)以便追溯。
光學(xué)鏡片檢測(cè):選 20X 物鏡,透明鏡片開啟 “偏振光" 功能,減少反光;測(cè)量曲率半徑時(shí),軟件選擇 “曲率分析" 模塊,自動(dòng)計(jì)算數(shù)值(誤≤0.15%)。
機(jī)械零件檢測(cè):選 5X 或 10X 物鏡,掃描范圍 4mm×4mm,開啟 “缺陷識(shí)別" 功能,自動(dòng)統(tǒng)計(jì)劃痕數(shù)量、長(zhǎng)度(精度 0.1μm),快速判斷零件表面質(zhì)量。
測(cè)量時(shí)禁止觸碰樣品臺(tái),避免振動(dòng)導(dǎo)致數(shù)據(jù)偏差;
更換物鏡后需在軟件中執(zhí)行 “物鏡校準(zhǔn)"(用標(biāo)準(zhǔn)樣板驗(yàn)證);
軟件每 3 個(gè)月從更新一次,更新前備份測(cè)量數(shù)據(jù),防止丟失。布魯克三維光學(xué)輪廓儀開機(jī)前準(zhǔn)備與檢查