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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
ContourX-100BEUKER三維光學(xué)輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎(chǔ)設(shè)備
                    



產(chǎn)品簡介
                BEUKER三維光學(xué)輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎(chǔ)設(shè)備在小型五金廠、電子配件廠等小型制造企業(yè),布魯克 ContourX-100 以低成本、易維護(hù)的優(yōu)勢,成為產(chǎn)品質(zhì)量檢測的入門級設(shè)備,幫助企業(yè)把控基礎(chǔ)生產(chǎn)質(zhì)量。
BEUKER三維光學(xué)輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎(chǔ)設(shè)備
參數(shù)項  | 具體數(shù)值  | 
橫向分辨率  | 最高可達(dá) 1μm  | 
縱向分辨率  | 低至 5nm  | 
縱向測量范圍  | 5nm-3mm  | 
樣品臺尺寸  | 80mm×80mm  | 
單次測量時間  | 約 3-5 分鐘(標(biāo)準(zhǔn)參數(shù))  | 
數(shù)據(jù)存儲  | 支持 SD 卡(最大 32GB)、本地存 200 組  | 
對比功能  | 支持自定義標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù),自動對比  | 
電源要求  | 220V±10%,50Hz  | 
工作溫度  | 15-32℃  | 
相對濕度  | 20%-75%(無冷凝)  | 
BEUKER三維光學(xué)輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎(chǔ)設(shè)備
公司地址:北京市房山區(qū)長陽鎮(zhèn)
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