澤攸臺(tái)階儀：實(shí)驗(yàn)室的可靠伙伴

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澤攸臺(tái)階儀：實(shí)驗(yàn)室的可靠伙伴
在材料表面形貌測(cè)量領(lǐng)域，澤攸臺(tái)階儀以實(shí)用設(shè)計(jì)和穩(wěn)定表現(xiàn)，成為實(shí)驗(yàn)室常用的測(cè)量工具。

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更新時(shí)間：2025-10-21

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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在材料表面形貌測(cè)量領(lǐng)域，澤攸臺(tái)階儀以實(shí)用設(shè)計(jì)和穩(wěn)定表現(xiàn)，成為實(shí)驗(yàn)室常用的測(cè)量工具。澤攸臺(tái)階儀：實(shí)驗(yàn)室的可靠伙伴

產(chǎn)品細(xì)節(jié)

外觀簡(jiǎn)潔，機(jī)身大小適中，便于在實(shí)驗(yàn)室臺(tái)面上安放。操作面板按鍵排列有序，搭配清晰的顯示屏，操作人員能快速理解各項(xiàng)功能并完成設(shè)置。樣品臺(tái)采用平整的金屬臺(tái)面，四周設(shè)有可調(diào)節(jié)的樣品固定裝置，能穩(wěn)固放置不同尺寸的樣品，確保測(cè)量過程中樣品不發(fā)生位移。設(shè)備的測(cè)量探頭保護(hù)到位，配有專門的收納槽，減少閑置時(shí)的磕碰損傷。

產(chǎn)品性能

該臺(tái)階儀通過接觸式測(cè)量方式，能捕捉樣品表面的臺(tái)階高度、粗糙度等信息。測(cè)量過程中，探頭移動(dòng)平穩(wěn)，數(shù)據(jù)采集連貫，多次測(cè)量結(jié)果的一致性較好。它對(duì)金屬、陶瓷、塑料等多種材料表面都有較好的適應(yīng)性，可滿足實(shí)驗(yàn)室常見的測(cè)量需求。測(cè)量范圍能覆蓋多數(shù)樣品的臺(tái)階高度范圍，無需頻繁更換測(cè)量模式。

用材講究

測(cè)量探頭采用耐磨的硬質(zhì)合金材料，延長了探頭的使用壽命，減少了因磨損導(dǎo)致的測(cè)量偏差。樣品臺(tái)選用高強(qiáng)度合金，表面經(jīng)過精細(xì)處理，既保證了平整度，又具備一定的抗腐蝕能力。設(shè)備內(nèi)部的傳動(dòng)部件采用優(yōu)質(zhì)鋼材，確保長期使用后仍能保持穩(wěn)定的運(yùn)動(dòng)精度。

參數(shù)詳情

參數(shù)項(xiàng)	具體數(shù)值
測(cè)量范圍	0 - 300μm（臺(tái)階高度）
分辨率	可滿足常規(guī)臺(tái)階測(cè)量需求
樣品臺(tái)尺寸	150mm×150mm
探頭接觸力	多檔可調(diào)，適應(yīng)不同樣品
數(shù)據(jù)輸出	支持 USB 接口導(dǎo)出

廣泛用途

在新材料研發(fā)中，可用于測(cè)量涂層厚度、薄膜臺(tái)階高度，為材料性能分析提供數(shù)據(jù)。在高校實(shí)驗(yàn)室，能幫助學(xué)生完成表面粗糙度、臺(tái)階尺寸的實(shí)驗(yàn)課程，加深對(duì)材料表面特性的理解。在小型零部件加工企業(yè)，可檢測(cè)零件表面的微小臺(tái)階和凹凸?fàn)顩r，輔助控制產(chǎn)品質(zhì)量。

使用說明

使用前檢查設(shè)備各部件是否完好，探頭是否清潔。將設(shè)備放置在平穩(wěn)的工作臺(tái)上，避免振動(dòng)影響測(cè)量。放置樣品時(shí)，調(diào)整固定裝置將樣品夾緊，確保樣品表面平整朝上。根據(jù)樣品特性選擇合適的探頭接觸力和測(cè)量范圍，啟動(dòng)測(cè)量程序后，探頭會(huì)自動(dòng)移動(dòng)并采集數(shù)據(jù)。測(cè)量過程中不要觸碰樣品臺(tái)和探頭，以免影響結(jié)果。測(cè)量完成后，及時(shí)將探頭歸位，清理樣品臺(tái)，定期對(duì)探頭進(jìn)行校準(zhǔn)和清潔。澤攸臺(tái)階儀：實(shí)驗(yàn)室的可靠伙伴

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