澤攸ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)兼顧樣品形貌表征及元素分析功能,體積小巧,操作簡(jiǎn)便,安裝無(wú)需特殊環(huán)境,只需找一張桌子,供電即可工作.

澤攸ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍?zhuān)铀匐妷涸?-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、集成式oxford能譜儀，同時(shí)滿(mǎn)足形貌觀(guān)測(cè)及元素分析需求。

能譜儀參數(shù)

集成OxfordXploreCompact30能譜分析系統(tǒng)SuperATW窗口30mm2面積活區(qū)

分辨率優(yōu)于129eV（MnKα處）無(wú)需液氮冷卻

分析元素范圍：B5-Cf98

點(diǎn)、線(xiàn)、面掃描分析

全中文軟件操作界面（中英文切換功能）

電鏡主機(jī)特色

僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，無(wú)須對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟；

亮度/對(duì)比度一鍵自適應(yīng)，自動(dòng)/手動(dòng)聚焦;

抽真空時(shí)間小于90秒；

標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航，搭配多樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品；

信號(hào)采集帶寬10M，掃描速度快；

視頻模式下實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品，操作流暢，無(wú)卡頓；

四分割背散射電子探測(cè)器（多種成像模式）、二次電子探測(cè)器；

BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能。