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納米尺度分析：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。

高分辨成像：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 對(duì)于尋求高分辨成像能力的用戶，澤攸電鏡的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡將高性能融入小巧的機(jī)身中。該產(chǎn)品減少了用戶對(duì)大型設(shè)備空間的依賴。

澤攸透射電鏡：探索微觀世界 澤攸電射推出的PicoScan系列掃描電鏡（SEM），為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)研究提供了一種觀察工具。該系列電鏡設(shè)計(jì)緊湊，適合實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。

澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案澤攸透射電鏡原位MEMS系統(tǒng)是一套專為透射電子顯微鏡設(shè)計(jì)的微機(jī)電實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，旨在實(shí)現(xiàn)對(duì)材料在多種外場(chǎng)激勵(lì)下的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)觀測(cè)。該系統(tǒng)通過精密的微納加工技術(shù)，為材料科學(xué)研究提供了原位實(shí)驗(yàn)的解決方案。

澤攸原位MEMS：動(dòng)態(tài)電鏡觀測(cè)新方案在材料科學(xué)、納米技術(shù)和生命科學(xué)等領(lǐng)域，透射電子顯微鏡（TEM）是觀察材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具。而原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)的進(jìn)步，使得研究人員能夠在原子尺度下實(shí)時(shí)觀察材料在外界刺激（如加熱、拉伸、電場(chǎng)等）下的動(dòng)態(tài)變化。澤攸科技推出的透射電鏡原位MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）技術(shù)，為這一研究方向提供了新的實(shí)驗(yàn)手段。

澤攸ZP3-4微納探針臺(tái)是一款適用于微納器件電學(xué)性能測(cè)試的精密儀器，主要服務(wù)于半導(dǎo)體器件、納米材料和微電子機(jī)械系統(tǒng)（MEMS）等領(lǐng)域的研究與測(cè)試需求。該系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)理念，可滿足不同規(guī)格樣品的測(cè)試要求。澤攸ZP3-4微納探針臺(tái)精密電學(xué)測(cè)量平臺(tái)