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布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量 在科研探索與工業(yè)生產(chǎn)對高精度測量需求日益增長的當下,布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學輪廓儀以其設(shè)計與強大性能,成為落地式測量設(shè)備中的,為眾多領(lǐng)域帶來全新的測量體驗。
更新時間:2025-10-21
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布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選 在微觀測量的廣闊天地里,布魯克 ContourX - 500 白光干涉光學輪廓儀憑借其魅力,吸引著眾多科研人員與工業(yè)生產(chǎn)者的目光,為他們的工作帶來高效與精準。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:
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布魯克白光干涉輪廓儀 微觀世界的測量伙伴 在科研與工業(yè)生產(chǎn)中,對微觀世界的精準探索離不開得力的測量工具。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學輪廓儀,以其設(shè)計與實用性能,為各領(lǐng)域提供了可靠的測量支持。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:
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Sensofar三維共聚焦輪廓儀多功能表面分析 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導體、精密制造、材料科學等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:S neox
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Sensofar三維輪廓儀:共聚焦與干涉測量結(jié)合 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導體、精密制造、材料科學等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:S neox
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Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導體、精密制造、材料科學等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間:2025-10-21
產(chǎn)品型號:S neox
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