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探索Sensofar光學輪廓技術 Sensofar Metrology作為光學測量領域的參與者，其S neox和LIN系列三維光學輪廓儀集成了多種光學測量技術，包括共聚焦、白光干涉（VSI）和相移干涉（PSI），為微觀表面的三維形貌測量提供了多樣的解決方案。

詳解布魯克ContourX系列輪廓儀核心技術 布魯克ContourX系列三維光學輪廓儀的測量能力，源于其核心的白光干涉技術（WLI）和穩(wěn)健的機械設計。理解這些技術細節(jié)，有助于用戶更好地發(fā)揮儀器的潛能。

布魯克ContourX輪廓儀專注高效小樣品檢測 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質量檢測環(huán)節(jié)，對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-100三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。

布魯克ContourX系列輪廓儀平衡性能與靈活性 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質量檢測環(huán)節(jié)，對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。

布魯克ContourX 輪廓儀應對大尺寸樣品測量 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質量檢測環(huán)節(jié)，對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。

認識布魯克ContourX系列三維光學輪廓儀 布魯克公司的ContourX系列三維光學輪廓儀，涵蓋了ContourX-500, ContourX-200和ContourX-100三種型號，為不同領域的表面三維形貌測量提供了多樣的選擇。這個系列的產品基于白光干涉技術（也稱垂直掃描干涉術），通過非接觸的方式，能夠對從超光滑到相當粗糙的表面進行三維形貌測量和量化分析。