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Sensofar S wide小空間適配的高性價測量儀 很多用戶擔心 “大視野測量儀必然體積大、占空間”，但 Sensofar S wide 在設計時兼顧了 “大視野性能” 與 “緊湊結(jié)構(gòu)”，即使是空間有限的實驗室或產(chǎn)線工位，也能輕松容納。

Sensofar S wide：讓大事業(yè)數(shù)據(jù)賦能產(chǎn)研 在材料、光學等科研領(lǐng)域，研究人員常需要同時掌握樣品的全局狀態(tài)與局部細微變化，Sensofar S wide 的大視野與細節(jié)捕捉能力，能為這類研究提供全面的數(shù)據(jù)支撐，避免傳統(tǒng)設備 “顧此失彼” 的局限。

Sensofar S wide：新手的協(xié)作型測量儀 對很多用戶來說，大視野測量設備的操作門檻常讓人卻步，但 Sensofar S wide 在設計時就注重 “簡化操作”，從開機到出結(jié)果，核心步驟清晰易懂，即使是初次接觸的新手，也能快速上手。

Sensofar S wide：難測樣品也能輕松應對 在光學行業(yè)檢測透明樣品（如大尺寸玻璃蓋板、光學鏡片、透明薄膜）時，傳統(tǒng)設備常因表面反光導致數(shù)據(jù)失真，而 Sensofar S wide 通過專屬光學設計，能輕松應對這類難題，無需額外加裝復雜附件。

Sensofar S wide一次掃全大尺寸樣品測量儀 在檢測大尺寸樣品（如電路板、光學鏡片、模具型腔）時，傳統(tǒng) 3D 輪廓儀常因視野有限，需要多次掃描后拼接數(shù)據(jù)，不僅耗時久，還可能因拼接偏差影響結(jié)果準確性。

Sensofar在半導體晶圓薄膜厚度測量中的應用 Sensofar?S?neox 通過 4?in?1 光學技術(shù)（共聚焦、白光干涉、多焦面疊加、光譜反射）實現(xiàn)對晶圓薄膜的非接觸、亞納米級厚度測量。以下從測量原理、典型案例、操作流程、數(shù)據(jù)輸出四個維度展開說明。